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iX飛秒激光剝蝕系統(tǒng)J200 iX飛秒激光剝蝕系統(tǒng)是一款高性能的臺式激光剝蝕設(shè)備，適用于高精度同位素及元素比測量。其核心部件為飛秒摻鐿激光器，波長1030nm/...
弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺式雙面電池PID測試儀用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微...
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...
弗萊貝格 便攜式現(xiàn)場PID測試儀（PIDcheck）便攜式現(xiàn)場PID（電位誘發(fā)衰減）測試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測...
MDPspot少子壽命測試儀低成本桌面單點(diǎn)測量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動(dòng)化?？蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
MDPlinescan在線少子壽命測試儀靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀MDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的...
德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電...
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地...
全自動(dòng) 氫氘交換（HDX）系統(tǒng)氫氘交換技術(shù)（HDX)是研究蛋白質(zhì)空間構(gòu)象的重要方法之一。它可以研究蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)及動(dòng)態(tài)變化，發(fā)現(xiàn)蛋白質(zhì)相互作用位點(diǎn)，鑒定蛋白表位及活...
Fusions CO2激光熔融系統(tǒng)Fusions CO2 系統(tǒng)包括激光和光路單元、內(nèi)置能量計(jì)、與激光同軸的視頻觀察單元、XYZ三維移動(dòng)平臺和多點(diǎn)選擇光圈，以及照...
Excite Pharos 飛秒激光剝蝕系統(tǒng)是市面上很具操作性的飛秒系統(tǒng)，采用結(jié)構(gòu)緊湊、全密閉的工業(yè)級激光源，無需二次校準(zhǔn)和清潔維護(hù)。系統(tǒng)提供多種波長可選，如1...
Analyte Excite準(zhǔn)分子激光剝蝕系統(tǒng)Photon Machines團(tuán)隊(duì)（縮寫PMI）的激光剝蝕/激光燒蝕產(chǎn)品線為全球行業(yè)之一，其第一代產(chǎn)品于1995年...
IRIDIA極速成像準(zhǔn)分子激光剝蝕系統(tǒng)Photon Machines團(tuán)隊(duì)（縮寫PMI）的激光剝蝕/激光燒蝕產(chǎn)品線為全球之一，其第一代產(chǎn)品于1995年問世，該品牌...
Aridus3膜去溶霧化系統(tǒng)Aridus3 膜去溶霧化系統(tǒng)采用低流量、微量霧化器，只需極低量樣品就能分析所有元素，同時(shí)系統(tǒng)全部采用PFA惰性材料，可應(yīng)用于含HF...
U5000AT+超聲波霧化系統(tǒng)美國Teledyne CETAC公司同時(shí)為ICP/ICP-MS提供專業(yè)、高效的霧化系統(tǒng)，以提高分析 靈敏度、減低背景和干擾，或滿足...
LSX-213 G2+固態(tài)激光剝蝕系統(tǒng)美國CETAC的激光剝蝕/激光燒蝕產(chǎn)品線源于全球行業(yè)之一的Photon Machines團(tuán)隊(duì)（縮寫PMI），其第一代產(chǎn)品于...
Fusions Diode激光熔融系統(tǒng)Fusions Diode 系統(tǒng)標(biāo)配一套光學(xué)溫度測量系統(tǒng)，能夠?qū)崟r(shí)測量加熱區(qū)域溫度，優(yōu)化熔融效果。
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